Brzina kojom se mogu razvijati novi proizvodi usko je povezana s sposobnošću istraživača da razviju nove tehnologije za proizvodnju naprednih materijala i da imaju sposobnost da ih karakteriziraju kroz raspon prostornih i vremenskih skala.
Znanja koja proizlaze iz istraživanja pomoću infrastrukture u znanosti o materijalima koje su često usmjerene na analitičke metode - neophodne su kako bi se osigurao budući napredak kao što je razvoj novih i naprednih materijala.
Nano-znanost i tehnologija obuhvaćaju znanost o materijalima, tehnologiju materijala i inženjering. Ona proučava manipulaciju ili samouređenje pojedinačnih atoma, molekula ili molekularnih skupina u strukture za stvaranje materijala i uređaja s novim svojstvima. Nema sumnje da je nano-znanost i tehnologija jedno od glavnih područja istraživanja i razvoja u narednim desetljećima.
Zbog svoje vrlo multidisciplinarne prirode, potreban je širok raspon tehnika karakterizacije sposobnih za proučavanje svojstava materijala na mikro- i nano-skali. Ne manje važna je i konvencionalna, manja i namjenska oprema. Iako neke od ovih tehnika već postoje u IRB-u, organizacija u podjedinice za karakterizaciju u kombinaciji s nabavom novih instrumenata pojednostavit će pristup istraživača modernoj opremi za istraživanje materijala.
Oprema
Difraktometar rendgenskih zraka na prašcima - Empyrean
Znanstvena platforma: TechMat
Jedinica: Jedinica za karakterizaciju
Kontakt osoba: dr. sc. Josip Bronić
Oprema za snimanje difraktograma na praškastim uzorcima, analiza difraktograma
Ramanski spektrometar integriran s atomskim mikroskopom sila
Znanstvena platforma: TechMat
Jedinica: Jedinica za karakterizaciju
Kontakt osoba: dr. sc. Vlasta Mohaček Grošev
Raman-AFM (integrirani Ramanov spektrometar s mikroskopom atomskih sila) je instrument kojim se mogu istrovremeno prikupljati i spektroskopski podaci (ramanski spektri), kao i slika prostornog rasporeda molekulskih /atomskih struktura na površini te mjeriti sile između njih i vrha probe. Uz kontaktni i ne-kontaktni mod, mogu se vršiti mjerenja Kelvinove probe i fotostruje.
